Suchfilter

 Filter löschen

Electron Backscatter Diffraction

2 Ergebnisse gefunden.
PISA – FEI Quanta 3D Dual Beam (SEM & FIB)

Die FEI Quanta 3D FEG ist eine Dual-Beam-Maschine auf dem neuesten Stand der Technik, die ein traditionelles thermisches Rasterelektronenmikroskop (REM) mit dem fokussierten Ionenstrahl (FIB) kombiniert. Diese Kombination ermöglicht die Charakterisi…
PISA – ZEISS Ultra Plus Raster Elektronen Mikroskop (SEM)

Mit dem ZEISS Feldemissionsrasterelektronenmikroskop Ultra Plus können hochaufgelöste Bilder erfasst, analysiert und ergänzt werden, um die gesamte Information aus einer Probe zu erhalten. Das komplette Detektionssystem des Ultra Plus kombiniert ein…