Suchfilter
Filter löschen
-
- Geochemie
- Geologie
- Laborspezifische Schlagworte
- Analytische Methoden
- In Situ/Laboratory Instruments
- Electron Diffraction
- Electron Backscatter Diffraction
- Photon/Optical Detectors
- Cathodoluminescence Microscopy
- Spectrometers/Radiometers
- Micro-X-Ray Fluorescence Spectroscopy
- X-Ray Fluorescence Core Scanning
- X-Ray Fluorescence Spectroscopy
- X-Ray/Gamma Ray Detectors
- Energy Dispersive Analysis of X-Ray
- Paläoklima
- Sedimentologie
Scanning Electron Microscopy
PISA – ZEISS Ultra Plus Raster Elektronen Mikroskop (SEM)
Mit dem ZEISS Feldemissionsrasterelektronenmikroskop Ultra Plus können hochaufgelöste Bilder erfasst, analysiert und ergänzt werden, um die gesamte Information aus einer Probe zu erhalten. Das komplette Detektionssystem des Ultra Plus kombiniert ein…