Suchfilter

Filter löschen

Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy

2 Ergebnisse gefunden.
PISA – FEI - Helios G4 UC - Dual Beam (SEM-FIB)

Die FEI Helios G4 Dual Beam ist Teil der vierten Generation der führenden Helios Dual Beam Familie. Es kombiniert die innovative Elstar-Elektronensäule mit der Hochstrom-UC+ Technologie für extrem hochauflösende Bildgebung und den höchsten Materialk…
PISA – FEI Quanta 3D Dual Beam (SEM & FIB)

Die FEI Quanta 3D FEG ist eine Dual-Beam-Maschine auf dem neuesten Stand der Technik, die ein traditionelles thermisches Rasterelektronenmikroskop (REM) mit dem fokussierten Ionenstrahl (FIB) kombiniert. Diese Kombination ermöglicht die Charakterisi…